薄层色谱自动成像分析系统

BD-35 薄层色谱自动成像分析系统 既可观察、又可进行图像分析，能广泛应用于薄层色谱试验的各领域，用途广泛：

● 观察天然产物的薄层分离效果，如色谱的定性观察、含量测定、指纹图谱分析；

● 有机化合物合成中的应用，如监测中间产物的反应进展，样品不需过多的预处理，速度快，

● 生物学观察，如生物标本的拍照保存，测量各功能部位的大小、距离尺寸；

● 质检部门使用，如薄层色谱图存档，鉴别反应结果考察 、有关物质检查；适合在机关单位、大专院校、厂矿企业、医院、药检所、研究所单位开展的中成药物分析、农药、有机化工产品的试验、生物样本的观察、检查、定性、定量等教学科研、检验工作。

技术参数

    ● 配备暗箱，使用时不受环境影响；大功率紫外光源，观察荧光更强；

    ● 三种光源任选：白光（400-750nm）、紫外光254nm、紫外光365nm；

    ● 快速拍照、自动保存、彩色输出、图像分析、报告各种数据；

    ● 测量平台：1×1cm～20×20cm范围内可调；

    ● 配备照相系统，像数高，弱光适用（<1Lux）,特别适用于紫外下荧光斑点的 测定；图像质量优，带有直径52mm紫外拍摄镜；

    ● 配备的薄层色谱图像拍照软件及图像处理分析软件

功能众多：

1、有与单波长扫描,双波长扫描，多通道扫描功能.

2、对TLC斑点进行准确定量，自动测量Rf值，

3、对图像可任意角度旋转,可对色彩亮度、饱和度、对比度进行校正，可对拍摄的照片加注文字、标识，进行任意选择字体和字体大小，任意比例显示

4、具有图像预处理可检测极其微弱的斑点，背景校正、背景扣除测量的结果更准确

5、可选择性标记轨道上感兴趣的斑点，图形与报告多窗口实时展现

6、可标记水平轨道、垂直轨道、任意方向轨道的斑点，通过调节阈值可自动标记，也可手动添加、删除标记。

7、比对功能：有助于质量控制和鉴定图像混合比对、图形垂直或水平对齐比对 、图形垂直或水平差异比对，轨道之间的报告比对，%相似比对

8、图像拍照（转换）、斑点扫描、背景校正、自动积分、打印；报告斑点位置（Pos）、斑点 面积（Area）、光密度（OD值）、归一法含量（%）、标准曲线、内外标定量计算、样品 标记等；还具有样品批间相似度 （Sim%）计算，用于检测不同批次样品间的差异，具有指纹图谱分析功能；满足对图谱的定性与定量分析的各种需要；

9多样品平行分析，有可比性强、分析速度快、分离条件简便，使用成本低廉的特点；

10、符合《中国药典》薄层色谱试验的有关要求.